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On Site XRD


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Indirizzo/Address:
XRD-Tools s.r.l.
via Giuntini 25
56023 Navacchio di Cascina Pisa (PI)
Italia

email: info@xrd-tools.it

Web Site: http://www.xrd-tools.it/

Keywords: Diffrazione a raggi X – diffrazione a raggi X non distruttiva – Diffrattometro portatile

Descrizione attività di ricerca

Il gruppo, nato dalla collaborazione tra Università di Pisa e XRD-Tools, spin-off accademico, si occupa di sviluppare metodi e tecniche per la “On site XRD” ovvero la diffrazione in campo. Ciò richiede che lo strumento si adatti quanto possibile al provino da analizzare, implicando una radicale diffrenziazione rispetto alla diffrazione a raggi X tradizionale. Cambia anche il concetto di provino, che area investigata di una porzione di una porzione componente o un manufatto più ampio. Lo strumento utilizzabile per la “on site XRD” deve avere una flessibilità di adattamento alle geometrie prevedibili ed eliminare le limitazioni di un diffrattometro tradizionale. Occorre ragionare in termini di mantenimento del provino in loco (on site) per ottenere un’applicazione XRD non distruttiva in senso stretto. Il primo passo è stato ottenuto con l’implementazione di un nuovo diffrattometro. DifRob® US patent n.726,178 e marchio continentale registrato della XRD-Tools s.r.l., spin-off accademico dell’Università di Pisa. Test condotti su DifRob qualificano questa tecnologia come diffrattometro a raggi X. DifRob è funzionale per investigare componenti in servizio o raccogliere dati in posti difficili da raggiungere. Questa distanza può essere variabile da pochi millimetri fino ed in prospettiva può arrivare a qualche decimetro. L’uso della diffrazione a raggi X diventa possibile anche in posti rischiosi e nocivi, in conformità con uno o più tipi di analisi conosciute per la diffrazione a raggi X:

  • Identificazione di fasi

  • Concentrazioni di fasi

  • Frazione cristallina e dimensione

  • Determinazione dei parametri di reticolo

  • Determinazione della struttura cristallina

  • Raffinamento della struttura cristallina

  • Macrostress (tensioni residue)

  • Determinazione di Micro/ nano tensioni

  • Dimensione del cristallino

Durante l’attività di ricerca e sviluppo condotta dalla XRD-Tools in collaborazione con l’Università di Pisa, le seguenti analisi sono state condotte utilizzando DifRob:

  • Studio della densità di rocce pelitiche e di polveri
  • Titolo e microstruttura di materiali preziosi
  • Ruvidità superficiale di piastrine di titanio
  • Deformazioni reticolari in leghe metalliche (es. TiVAl. Acciai) causate da trattamenti termici sulle saldature.
  • Composizione chimica di leghe di rame
  • Composizione e tensioni residue su materiali ceramici

Pubblicazioni recenti

1) G. Berti, F. De Marco, A. Nicoletta ON SITE X-RAY DIFFRACTION FROM DISTANCE FOR CULTURAL HERITAGE International Workshop – IN SITU MONITORING OF MONUMENTAL SURFACES 27-29 Ottobre 2008, In stampa.

2) G.Berti , A. Nicoletta, F. De Marco, A. Tonti, G. Augugliaro, D. Pinciroli Il metodo XRD per l’osservazione di fenomeni alla scala nanometrica: comportamento a creep e sua propagazione Atti Conferenza Nazionale Sicurezza ed Affidabilità delle attrezzature a pressione SAFAP2008 12-13 Giugno 2008, 629-639.

3) G.Berti, A.Nicoletta, F.De Marco Analisi Non Distruttive di una piastrina di allumina Atti Conferenza Nazionale Sicurezza ed Affidabilità delle attrezzature a pressione SAFAP2008 12-13 Giugno 2008, 549-556.

4) G. Berti, F. De Marco, G. Augugliaro, A. Nicoletta Stato di recepimento nazionale e di sviluppo al CEN della normativa europea XRD Atti Conferenza Nazionale Sicurezza ed Affidabilità delle attrezzature a pressione SAFAP2008 12-13 Giugno 2008, 151-158.

5) G.Berti, F.De MArco, A.Nicoletta “On site x-ray diffraction”: a new NDT approach to the surface analysis of stones JProceedings II International Conference on Dimension & Stones May 29-31, 2008, 237-242.


English version


Keywords:
X-ray diffraction, Non destructive X-ray diffraction, portable diffractometer

Research activity

The “on site x-ray diffraction”, differently from the traditional XRD used in laboratory, shall consider that the instruments have to adapt themselves as much as possible to the specimen under investigation. Also the concept of specimen changes from the portion of a sample to the portion of a component or a manufacture or a piece of natural stone which