Scuola AIC 1998: Diffrattometria da materiali policristallini: recenti sviluppi delle tecniche di risoluzione e di raffinamento strutturale

Copertina
Download file

Programma
Download file

1 N. Masciocchi
Indicizzazione di spettri di diffrazione di raggi X di materiali policristallini. Ricostruzione del reticolo reciprco
Download file

2 A. Altomare
Decomposizione dello spettro ed estrazione dell’intensità. Aspetti generali
Download file

3 A. Guagliardi
Metodi diretti applicati alle polveri
Download file

4 A.G.G. Moliterni
Uso della informazione a priori
Download file

5 R.Rizzi
Il package EXPO
Download file

6 N. Masciocchi
Altri metodi di risoluzione strutturale. Panoramica e possibilità applicative
Download file

7 N. Masciocchi
Esempi di applicazioni della XRPD alla chimica strutturale di coordinazione ed organometallica
Download file

8 G. Will
Il metodo two-steps
Download file

9 A. Gualtieri
Raffinamento strutturale (III). Condizioni non ambiente. Affinamenti simultanei su sets di dati differenti (XRD-ND, resonant scattering)
Download file

10 A. Gualtieri
Esempi di applicazione della XRPD nel campo inorganico-mineralogico
Download file

11 G. Cruciani
Metodi sperimentali in diffrazione di polveri
Download file

12 J. Schneider
Raffinamento strutturale (I). Cenni storici. – Raffinamento strutturale (II). – Il metodo di Rietveld. – Aspetti pratici
Download file