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Scuola AIC 1998: Diffrattometria da materiali policristallini: recenti sviluppi delle tecniche di risoluzione e di raffinamento strutturale

Copertina
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Programma
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1 N. Masciocchi
Indicizzazione di spettri di diffrazione di raggi X di materiali policristallini. Ricostruzione del reticolo reciprco
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2 A. Altomare
Decomposizione dello spettro ed estrazione dell’intensità. Aspetti generali
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3 A. Guagliardi
Metodi diretti applicati alle polveri
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4 A.G.G. Moliterni
Uso della informazione a priori
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5 R.Rizzi
Il package EXPO
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6 N. Masciocchi
Altri metodi di risoluzione strutturale. Panoramica e possibilità applicative
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7 N. Masciocchi
Esempi di applicazioni della XRPD alla chimica strutturale di coordinazione ed organometallica
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8 G. Will
Il metodo two-steps
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9 A. Gualtieri
Raffinamento strutturale (III). Condizioni non ambiente. Affinamenti simultanei su sets di dati differenti (XRD-ND, resonant scattering)
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10 A. Gualtieri
Esempi di applicazione della XRPD nel campo inorganico-mineralogico
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11 G. Cruciani
Metodi sperimentali in diffrazione di polveri
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12 J. Schneider
Raffinamento strutturale (I). Cenni storici. – Raffinamento strutturale (II). – Il metodo di Rietveld. – Aspetti pratici
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