Scuola AIC 1988: Cristallografia e scienza dei materiali

Volume 1988: Cristallografia e scienza dei materiali



Copertina
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Programma
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1 G. Ferraris
Introduzione generale
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2 V. Massarotti
Il metodo di Rietveld - Applicazioni del metodo di Rietveld:gli ossidi ceramici
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Metodo delle polveri: il diffrattometro. Le maggiori aberrazioni in diffrattometria - Principi del metodo di Rietveld - Acquisizione dei dati - Procedura del raffinamento
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4 S. Bruckner
Strutture cristalline di polimeri da campioni orientati e non
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5 S. Bruckner
Profile analysis of X-ray diffraction data from powder polymer samples
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6 C. Paorici
I semiconduttori
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7 G. L. Olcese
I superconduttori
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8 P. Maistrelli
Il trattamento di diffrattogrammi
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9 Ital structures
Software applicativo
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10 G. Fagherazzi
Dispense parte I- Analisi dell’allargamento dei profili di picchi XRD di materiali microcristallini Dispense parte II – Metodi di calcolo della cristallinità in materiali semicristallini (polimeri, vetroceramici ecc..)
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11 R. Bertoncello
Spettoscopia fotoelettronica
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12 M. Mellini
Electron diffraction and electron imaging in the study of inorganic crystals
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13 E. Scandale
Topografia a RX Caratterizzazione difettiva di cristalli naturali e sintetici mediante topografia RX
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NMR di campioni solidi
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